Sehr weiter Messbereich von 0,3 nm bis 8 µm

Nanopartikelanalysator Horiba SZ-100

09.11.2010 Das neue, kompakte Nanopartikelanalysator Horiba SZ-100 von Retsch Technology wurde für die Partikelgrößenmessung bis in den Subnanometer-Bereich sowie die Bestimmung des Zetapotentials und des Molekulargewichts entwickelt.

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Nanopartikelanalysator Horiba SZ-100 (Bild: Retsch Technology)

Der Analysator misst niedrige Konzentrationen ultrafeiner Partikel im Subnanometer-Bereich, wie sie in modernen Labors verwendet werden. Dieses neu entwickelte Analysegerät wird im Bereich modernster Bio- und Nanomaterial-Technologien eingesetzt sowie bei der Produktionskontrolle von Materialien wie Nanokeramiken oder Nanometalle. Das Horiba SZ-100 erzielt sehr gute Messergebnisse und verfügt über einen weiten Messbereich von 0,3 nm bis 8 µm. Damit erfüllt das Gerät nicht nur die Anforderungen für die Arbeit im Labor, sondern auch für die Qualitätskontrolle im Produktionsbereich.

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