Mikroskope Phenom pro X
  • voll integrierte EDX-Analyse
  • intuitive Bedienung
  • variable Beschleunigungsspannung
Die Rasterelektronenmikroskope wurden gezielt für den Einsatz ind der prozessintegrierten Qualitätssicherung entwickelt (Bild: LOT Oriel)

Die Rasterelektronenmikroskope wurden gezielt für den Einsatz ind der prozessintegrierten Qualitätssicherung entwickelt (Bild: LOT Oriel)

Dank variabler Beschleunigungsspannung und variablem Probenstrom lassen sich mit dem pro X REM-Bilder von sehr guter Qualität erzeugen. War EDX (Energie-dispersive Röntgenanalytik) bisher ein Thema, das zusätzliches Fachwissen erforderte, so ermöglicht das Phenom pro X den schnellen Einstieg in die Analytik von REM-Proben. Das Analysetool liefert als Ergebnisse leicht verständliche Elementverteilungen sowie die Elementspektren für Experten.

Hier gehts zum Hersteller.

Mikroskope 1306pf909

Mikroskope 1301pf001

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